垂直統合型製品開発 "シリコンの新たな可能性" Magma Design Automaton

2012年1月10日 06:23 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

垂直統合型製品開発 "シリコンの新たな可能性" Phil BishopCorporate Vice President of Worldwide MarketingMagma Design Autom

抽象レベルが異なるSystemC モデル間を接続するアダプタの活用　CircuitSutra Technologies

2011年10月25日 16:44 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

抽象レベルが異なるSystemC モデル間を接続するアダプタの活用CircuitSutra Technologies本稿では、抽象レベルが異なるSystemCモデル間を接続するアダプタの有効性について

新しいシリコン実現のためのテクノロジ・ソリューション Magma Design Automation

2011年10月 6日 14:51 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

新しいシリコン実現のためのテクノロジ・ソリューション　Magma Design Automation■はじめに何年にも渡り、半導体業界は広範な技術的問題や市場の圧力に打ち勝ってきました。今日革新と成功

FPGAを使った柔軟な検証メソドロジの採用事例 SpringSoft社

2011年7月25日 06:00 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

FPGAを使った柔軟な検証メソドロジの採用事例  SpringSoft社 System-on-chip（SoC）デザインでは、規模の拡大と複雑化が日々進んでいます。その中でも検証作業はSoC

Spice Simulationの生成する音はどこまでオーディオに通用するのか？-Spice Simulator「SMASH」の実力 パイリサーチラボ

2011年6月27日 10:13 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（1） | トラックバック（0）

SMASH　(Spice Simulator)　の実力  PI Research Labo（パイリサーチラボ）　代表　 柳　孝裕 1.　世界初の試み：『Spice Sim

半導体と物理、アナログ回路とSpice Simulationその５ -パイリサーチラボ柳氏

2011年3月 8日 07:17 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

半導体と物理、アナログ回路とSpice Simulation第五回：アナログ回路と制御理論  PI Research Labo（パイリサーチラボ）　代表　 柳　孝裕 1.

次世代プロトタイピングSoC検証プラットフォーム SpringSoft社

2011年1月18日 13:44 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

次世代プロトタイピングSoC検証プラットフォーム 汎用及びカスタムのFPGAプロトタイプ・ボードが、Co-EmulationやCo-Simulation機能で強化されることにより、迅速な早期SoC検証

OpenAccessにPCell をキャッシングする　SpringSoft社

2010年10月 8日 14:43 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

OpenAccessにPCell をキャッシングする 従来のPcellにキャッシング コンピュータ・プログラムでは、キャッシングは、命令を繰り返し実行する際にリクエストを再び行うことなく迅速に結果

半導体と物理、アナログ回路とSpice Simulationその４ -パイリサーチラボ柳氏

2010年10月 8日 07:56 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

半導体と物理、アナログ回路とSpice Simulation第四回：アナログ回路と電磁界    PI Research Labo（パイリサーチラボ）　代表　 柳　孝裕  

非同期デザインへのフォーマル検証適用方法　Jasper Design Automation

2010年9月15日 09:40 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

非同期デザインへのフォーマル検証適用方法 Jasper Design Automation 1.イントロダクション 昨今デザインが著しく複雑になるにつれ、非同期デザインの検証が、現在のSoCにおける大

コントローラブル・オートメーションと相互運用性規格　SpringSoft社

2010年7月16日 05:53 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

コントローラブル・オートメーションと相互運用性規格:次世代チップデザインのためのカスタム・デジタルレイアウトのスケーリングSpringSoft社 　　　SpringSoft社、Laker テクニカル・

半導体と物理、アナログ回路とSpice Simulationその３ -パイリサーチラボ柳氏

2010年7月 6日 08:17 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

半導体と物理、アナログ回路とSpice Simulation第三回：アナログ回路と物理    PI Research Labo（パイリサーチラボ）　代表　 柳　孝裕  

シリコン実証済みインターオペラブルPDK　SpringSoft社

2010年6月 7日 07:30 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

シリコン実証済みインターオペラブルPDK　SpringSoft社 　　　SpringSoft社、Laker テクニカル・マーケティング・マネージャ、Rich Morse 　　　TSMC社、デザイン・サ

半導体と物理、アナログ回路とSpice Simulationその２ -パイリサーチラボ柳氏

2010年5月25日 22:01 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（1） | トラックバック（0）

半導体と物理、アナログ回路とSpice Simulation第二回：アナログ回路と芸術    PI Research Labo（パイリサーチラボ）　代表　 柳　孝裕  

人が共に働く時、EDAツールも共に駆動する　SpringSoft社

2010年5月 6日 15:57 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

人が共に働く時、EDAツールも共に駆動する SpringSoft社‐Richard Morse著   2006年の終盤に、エレクトロニクス・デザイン・オートメーション（EDA）・ソフトウェア

ポストシリコンデバッグにおけるフォーマル技術の適用 Jasper Design Automation

2010年4月22日 17:39 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

ポストシリコンデバッグにおけるフォーマル技術の適用   by Jamil R. Mazzawi, Senior Applications Engineer, Jasper Design Au

PowerPro MG による SoC 設計時のメモリ消費電力削減 Calypto Design Systems

2010年4月14日 18:56 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（0） | トラックバック（0）

PowerPro MG による SoC 設計時のメモリ消費電力削減 Anmol Mathur, CTO, Calypto Design SystemsLisa Minwell, Director Te

半導体と物理、アナログ回路とSpice Simulation -パイリサーチラボ柳氏

2010年4月12日 05:53 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = | コメント（4） | トラックバック（0）

半導体と物理、アナログ回路とSpice Simulation第一回：日本におけるアナログ（技術＆製品）について一言    PI Research Labo（パイリサーチラボ）　代表

SOCインテグレーションにおけるフォーマル検証の適用 Jasper Design Automation

2010年3月29日 21:37 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = |

SOCインテグレーションにおけるフォーマル検証の適用 by Antonio Dimalanta, Field Applications Engineer, and Sebastian Skalber

パワーを考慮したデバッグの実現に向けて　SpringSoft社

2010年1月19日 08:21 | = EDA EXPRESS 菰田　浩 = |

パワーを考慮したデバッグの実現に向けて SpringSoft社‐Bindesh Pate著 設計検証を行うにあたって、1つだけ否定できない事実がある。それは、設計検証が設計期間に大きく影響し、依