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NECと産総研がAIとシミュレーションを融合しまれな不具合を効率的に発見する技術を開発

2018年5月11日、NECと産総研は発生確率が極めて低いため設計段階で事前に発見が難しい不具合を、AI(人工知能)が学習をしながらシミュレーションを繰り返して効率的に見つけ出す「希少事象発見技術」を開発したことを発表した。

プレスリリース文

発表された「希少事象発見技術」はNECの最先端AI技術群「NEC the WISE」の1つで、AI技術とシミュレーション技術を融合させ、複雑な条件の組合せでまれに起こる不具合の探索を効率化し、製品設計段階で熟練の専門家が費やしていた検証時間の大幅な短縮と複数不具合の見落としリスクを軽減するとしている。

実際に「希少事象発見技術」を光学機器の設計検証に適用したところ、熟練の専門家が1週間を要していた検証作業を約1日に短縮し、発生確率が1億分の1程度とまれな「迷光」を見落とすことなく発見できたという。

国立研究開発法人産業技術総合研究所

日本電気株式会社

= EDA EXPRESS 菰田 浩 =

(2018/05/15 )

 

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